高分辨质谱ZenoTOF™ 7600系统

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高分辨质谱ZenoTOF™ 7600系统

作为质谱创新的一次飞跃,这款高分辨率精确质量质谱系统将Zeno™ trap(Zeno阱)技术的功能与电子活化解离(EAD) 碎裂技术相结合,以揭示以前无法获得的结构信息,并且突破精确质量质谱可实现的定量限制。在 Zeno™ trap(Zeno阱)与 EAD 碎裂 技术相结合的强大功能的驱动下,这种以碎片为中心的创新使系统的灵敏度有了很大的提高,使您能够发现全新的质谱信息以确保结果的可靠性,从而更快地做出更明智的决策。在每次实验中检测多达 20 倍以上的离子,并使用一系列可调谐的碎裂技术,为每次实验中的每个分子开启新的视角。

 Zeno™ trap(Zeno阱) 技术在全质量范围内提高了MS/MS采集速率

 MS/MS灵敏度提高4-20倍

 EAD碰撞池,无需试剂、能量可调、高效的电子活化解离(EAD)裂解,可以为小分子和大分子提供多样化的碎裂功能

 多种基于电子解离碎裂技术的将方法特异性提升至新水平

 更丰富的碎片,以提供更多结构相关信息

 在MS和MS/MS采集模式下,扫描线性动态范围大于5数量级

 使用OptiFlow™ Turbo V离子源,可在高流速、微升流速和纳升流速之间轻松切换,无需进行特别方法优化

 


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